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Système de mesure de réflectance

BIX-8811
Système de mesure de réflectance

La réflectance est une propriété optique fondamentale des matériaux et un paramètre clé dans les mesures spectrales. Différents types d'échantillons présentent principalement deux modes de réflexion: la réflexion spéculaire et la réflexion diffuse. La réflexion spéculaire se produit sur des surfaces parfaitement lisses, tandis que la réflexion diffuse domine sur les surfaces rugueuses ou texturées. La plupart des matériaux du monde réel présentent des caractéristiques de réflexion mixtes. Les mesures de réflectance ont plusieurs objectifs, notamment la détermination de la réflectivité des composants optiques, l'analyse des propriétés de couleur de surface et l'identification de la composition chimique des échantillons.

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Caractéristiques du système de mesure de réflectance de la BIX-8811 

  • Manipulation facile des échantillons-Exigences minimales pour le placement d'échantillons polyvalents

  • Opération conviviale-Protocoles simples avec une excellente répétabilité et une détection rapide

  • Données spectrales complètes-Valeurs et courbes de réflectance à spectre complet pour une analyse complète

  • Mesure de couleur avancée-Échantillonnage de sphère intégré pour une caractérisation précise de la couleur du matériau

Applications du système de mesure de réflectance de la BIX-8811 

  • Mesure de la réflectance spéculaire-Pour les surfaces polies et les matériaux de type miroir

  • Analyse de réflectance diffuse-Idéal pour les surfaces et revêtements rugueux/texturés

  • Caractérisation des couleurs de précision-Mesure précise des couleurs des matériaux et des finitions

Applications du système de mesure de réflectance de la BIX-8811 

Spectre typique

Typical Spectrum
Typical Spectrum

Spécifications du système de mesure de réflectance de la BIX-8811 

ModèleBIX - 8811 - 0X1X
(Note de modèle: option 0X-spectromètre, 1X-option de montage d'échantillon)
Spectromètre01: 200nm - 1100nm (BIM - 6002S - 22 - S03L02F06G13)
02: 200nm - 900nm (BIM - 6002A - 01 - S03L02F06G01)
03: 400nm - 1100nm (BIM - 6002A - 13 - S03L01F05G02)
Fixation d'échantillon11:
1 à 1 fibre (SIM - 6102 - 1010 - S/S - P) * 2ea
Étape de réflexion à double point (BIM - 6303) * 1ea
12:
Fibre de type Y (SIM - 6102Y - 061016 - T/SS M) * 1ea
Étape de réflexion à double point (BIM - 6303) * 1ea
13:
Sphère d'intégration pour la réflexion (SIM - 3003 - 02501) * 1ea
Étape de sphère d'intégration (BIM - 6316 - 25) * 1ea
Source de lumièreSource lumineuse de tungstène deutérium (BIM - 6203) * 1ea
NormeRéflectance miroir Standard (6326) * 1ea
Réflectance diffuse Standard (SIM - 6304 - 30) * 1ea


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