Manipulation facile des échantillons-Exigences minimales pour le placement d'échantillons polyvalents
Opération conviviale-Protocoles simples avec une excellente répétabilité et une détection rapide
Données spectrales complètes-Valeurs et courbes de réflectance à spectre complet pour une analyse complète
Mesure de couleur avancée-Échantillonnage de sphère intégré pour une caractérisation précise de la couleur du matériau
Mesure de la réflectance spéculaire-Pour les surfaces polies et les matériaux de type miroir
Analyse de réflectance diffuse-Idéal pour les surfaces et revêtements rugueux/texturés
Caractérisation des couleurs de précision-Mesure précise des couleurs des matériaux et des finitions
| Modèle | BIX - 8811 - 0X1X (Note de modèle: option 0X-spectromètre, 1X-option de montage d'échantillon) |
| Spectromètre | 01: 200nm - 1100nm (BIM - 6002S - 22 - S03L02F06G13) |
| 02: 200nm - 900nm (BIM - 6002A - 01 - S03L02F06G01) | |
| 03: 400nm - 1100nm (BIM - 6002A - 13 - S03L01F05G02) | |
| Fixation d'échantillon | 11: 1 à 1 fibre (SIM - 6102 - 1010 - S/S - P) * 2ea Étape de réflexion à double point (BIM - 6303) * 1ea |
| 12: Fibre de type Y (SIM - 6102Y - 061016 - T/SS M) * 1ea Étape de réflexion à double point (BIM - 6303) * 1ea | |
| 13: Sphère d'intégration pour la réflexion (SIM - 3003 - 02501) * 1ea Étape de sphère d'intégration (BIM - 6316 - 25) * 1ea | |
| Source de lumière | Source lumineuse de tungstène deutérium (BIM - 6203) * 1ea |
| Norme | Réflectance miroir Standard (6326) * 1ea |
| Réflectance diffuse Standard (SIM - 6304 - 30) * 1ea |
